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Explore les principes fondamentaux et les applications de la microscopie à sonde à balayage, y compris la configuration STM, la reconstruction de surface, le tunnel quantique et la microscopie à force de balayage.
Introduit les bases de la microscopie électronique à transmission, couvrant la diffraction électronique, les modes d'imagerie, la préparation des échantillons, les propriétés électroniques et l'imagerie à haute résolution.
Couvre l'évaluation de la qualité des couches de sondes à l'aide du miroir résonnant, de la résonance de Plasmon de surface et de la microscopie électronique à balayage.
Explore la microscopie électronique à balayage environnemental (ESEM) pour l'imagerie de divers échantillons sans préparation, couvrant le balayage de faisceau d'électrons, la manipulation de pression, la diffusion d'électrons, l'analyse de rayons X et les transitions de phase.
Explore la spectroscopie à rayons X dispersive (EDS) en microscopie électronique, couvrant la génération de rayons X, la détection, la quantification et la cartographie des éléments dans les échantillons.
Explore les techniques de préparation d'échantillons pour la TEM, telles que la méthode du coin clivé et l'ultramicrotomie, en soulignant leur importance dans l'obtention d'échantillons de haute qualité.
Explore les principes et les applications de la microscopie électronique à balayage en micro et nanofabrication, couvrant les signaux électroniques, les problèmes de charge et les mesures dimensionnelles.
Explore les techniques de microscopie 3D et de tomographie, y compris la tomographie par sonde atomique et la microscopie par émission sur le terrain, en mettant l'accent sur les principes et les applications de la tomographie électronique.
Couvre le développement historique et les composantes clés de la microscopie électronique de transmission, y compris le pistolet à électrons, les lentilles, les ouvertures et les porte-échantillons.
