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Explore la génération et l'interprétation de la lumière polarisée elliptiquement en microscopie, y compris les techniques d'amélioration du contraste et la microscopie à contraste d'interférences différentielles (DIC).
Présente des expériences de métrologie pratiques, couvrant des sujets tels que la métrologie quantique, les expériences à photons uniques et l'AFM pour les mesures nanométriques.
Couvre les aspects généraux et les techniques de la microscopie, en mettant l'accent sur l'importance de la résolution et en explorant le tunneling de balayage et la microscopie à force atomique.
Couvre la visualisation, les techniques de microscopie, l'identification et la formation des cristaux liquides, y compris les transitions de phase et l'impression 3D.
Explore les techniques de microscopie optique, les mesures de dimension, le profilage de surface, la caractérisation électrique du MEMS et les techniques de microscopie avancées.
Explore la microscopie à contraste de phase, une technique d'imagerie à contraste élevé sans étiquette d'échantillons transparents développée dans les années 1930 par Frits Zernike.