Explore les techniques de préparation d'échantillons pour la TEM, telles que la méthode du coin clivé et l'ultramicrotomie, en soulignant leur importance dans l'obtention d'échantillons de haute qualité.
Explore les principes et les applications de la technologie Focused Ion Beam, y compris les interactions ion-solide, le broyage ionique et la nanofabrication.
Explore les techniques de préparation de matériaux organiques pour l'imagerie TEM, y compris les dispersions, les colorations, l'ultramicrotomie, et plus encore.
Explore les principes et les applications de la technologie Focused Ion Beam, couvrant l'imagerie, le fraisage, la préparation d'échantillons TEM, les structures nanofabriquées et la microscopie 3D.
Explore les méthodes et les défis de la préparation des échantillons pour l'observation TEM, en soulignant l'importance de la taille, de la composition et des mesures de sécurité.