Posez n’importe quelle question sur les cours, conférences, exercices, recherches, actualités, etc. de l’EPFL ou essayez les exemples de questions ci-dessous.
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Explore la microscopie électronique à balayage électronique (ESEM) pour l'imagerie d'échantillons dans divers environnements et l'étude des transitions de phase.
Explore les principes de la microscopie électronique à transmission (TEM), les mécanismes de contraste, l'identification des dislocations et les méthodes de nettoyage des échantillons pour une imagerie précise.
Explore les aberrations sphériques, chromatiques et astigmatistes dans les lentilles, ainsi que les idées historiques sur les aberrations des lentilles.
Couvre l'algorithme de transformée de Fourier rapide (FFT), l'interpolation, les filtres, le traitement d'image et les techniques expérimentales en TEM et STM.
Couvre les approches fondamentales de caractérisation des matériaux solides, en se concentrant sur l'analyse élémentaire, l'analyse thermique, la microscopie et les spectroscopies à base de neutrons.
