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Explore la mise en œuvre de portes logiques dans le matériau semi-conducteur, en se concentrant sur les technologies TTL et CMOS, les circuits intégrés, les dangers, les horloges, les bascules D et le débouncing des commutateurs.
Introduit des mesures SCOAP pour l'analyse de testabilité dans les systèmes VLSI, couvrant la contrôlabilité, l'observabilité et la prédiction de longueur de vecteur de test.
Explore les défauts, les erreurs et les modèles de défauts dans les systèmes VLSI, en mettant l'accent sur l'effondrement des défauts et la domination.
Couvre les éléments de mémoire dynamiques, les verrous, les bascules, les paramètres de synchronisation, le décalage d'horloge et la canalisation synchrone.
Couvre les principes de la conception synchrone RTL, des circuits numériques personnalisés, de la visualisation des diagrammes Y, des classes de signaux et de la gestion de la hiérarchie.
Couvre l'augmentation historique des cellules de mémoire par puce, l'importance de la mémoire dans les architectures de circuits intégrés modernes, l'augmentation spectaculaire du temps de test et divers défauts de mémoire.
Couvre l'importance de la distribution de l'horloge, de l'impact de l'horloge, de la construction d'arbres horlogers efficaces et des défis d'équilibrage.