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Explore les modes d'imagerie en TEM, couvrant les interactions électron-matière, les modèles de diffraction, la formation d'images, les principes de contraste et les configurations de détecteurs.
Explore les techniques de microscopie optique polarisée, y compris l'observation des sphérulites et de la biréfringence chez les spécimens, et l'analyse de divers matériaux.
Explore la microscopie à contraste de phase, une technique d'imagerie à contraste élevé sans étiquette d'échantillons transparents développée dans les années 1930 par Frits Zernike.
Explore les modes d'imagerie en TEM, couvrant les interactions électroniques, la diffraction, la formation de contraste et la correction de l'astigmatisme.
Explore la formation d'images HRTEM par l'interférence de faisceaux transmis et diffractés, couvrant la fonction de transfert de contraste, la correction des aberrations et les techniques de récupération de phase.
