Posez n’importe quelle question sur les cours, conférences, exercices, recherches, actualités, etc. de l’EPFL ou essayez les exemples de questions ci-dessous.
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Présente les bases de l'étalonnage de la caméra, y compris l'estimation des paramètres, les limitations du modèle de sténopé, l'imagerie de l'objectif, la profondeur de champ et les distorsions de l'objectif.
Couvre les composants et les technologies utilisés en microscopie électronique, y compris les détecteurs, les lentilles, les aberrations et les porte-échantillons.
Explore les propriétés électromagnétiques, l'indice de réfraction, la réfraction négative et le concept d'une lentille parfaite pour l'imagerie haute résolution.
Explore la transformation des ondes sphériques en ondes convergentes à l'aide de lentilles et discute des propriétés des faisceaux gaussiens et de la focalisation des sources thermiques.
Couvre la correction des aberrations optiques majeures en microscopie et la conception d'objectifs couramment utilisés comme les achromates et les apochromates.
