Cours associés (15)
CH-410: Physical and chemical analyses of materials
The course relates on the use of electromagnetic (X-Ray) and corpuscular (electrons) radiations for physical and chemical analysis of solid materials.
CH-633: Advanced Solid State and Surface Characterization
State-of-the-art surface/thin film characterization methods of polycrystalline/nano/amorphous materials. Selected topics from thin film X-ray diffraction (GIWAXS, GISAXS, PDF), electronic and optical
MSE-450: Electron microscopy: advanced methods
With this course, the student will learn advanced methods in transmission electron microscopy, especially what is the electron optical setup involved in the acquisition, and how to interpret the data.
MSE-451: Polymer morphological characterization techniques
Sample preparation and direct observation techniques (optical microscopy, AFM, electron microscopy) and their practical application to the study of morphology and microdeformation in polymers.

Graph Chatbot

Chattez avec Graph Search

Posez n’importe quelle question sur les cours, conférences, exercices, recherches, actualités, etc. de l’EPFL ou essayez les exemples de questions ci-dessous.

AVERTISSEMENT : Le chatbot Graph n'est pas programmé pour fournir des réponses explicites ou catégoriques à vos questions. Il transforme plutôt vos questions en demandes API qui sont distribuées aux différents services informatiques officiellement administrés par l'EPFL. Son but est uniquement de collecter et de recommander des références pertinentes à des contenus que vous pouvez explorer pour vous aider à répondre à vos questions.