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Explore les méthodes d'analyse de surface à l'aide d'électrons, d'ions, d'atomes et de photons, en soulignant l'importance du ToF-SIMS pour une analyse de surface approfondie dans divers domaines.
Explore les techniques de caractérisation standard, en se concentrant sur la diffraction des rayons X et son importance dans la détermination des structures cristallines.
Explore les phénomènes d'interférence optique, les principes de spectroscopie et les applications interférométriques dans le nano-positionnement et les gyroscopes.
Explore les principes et les applications de la microscopie électronique à balayage en micro et nanofabrication, couvrant les signaux électroniques, les problèmes de charge et les mesures dimensionnelles.
Couvre les principes et les applications de l'imagerie par résonance magnétique, y compris la spectroscopie RMN, l'imagerie multidimensionnelle et les mécanismes de contraste des images.
Couvre les bases des pinces optiques et leurs applications en microscopie, manipulation et spectroscopie, ainsi que l'alignement des molécules à l'aide d'impulsions laser.
Explore la détermination de la structure des protéines à l'aide de techniques RMN et Cryo-EM, couvrant les déplacements chimiques, le marquage isotopique, le NOE et les méthodes d'imagerie à haute résolution.
