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Explore l'impact de la contrainte sur les structures de bande de semi-conducteurs, l'épitaxie, l'épaisseur critique et la formation de défauts, en mettant l'accent sur le rôle de la loi de Hooke et de la théorie de l'élasticité.
Explore les jauges de silicium pour les capteurs piézorésistifs, couvrant les diodes pn, les effets de direction cristalline, la compensation de dérive thermique, l'intégration du capteur de pression et les systèmes de surveillance de la pression des pneus.
Explore les bases de la diffraction électronique, y compris la loi de Bragg, le réseau réciproque et des applications telles que la discrimination en phase cristalline.
Explore les modèles de déformation plastique dans les polymères verreux et semi-cristallins, y compris le modèle Eyring et l'influence des transitions secondaires.
