Posez n’importe quelle question sur les cours, conférences, exercices, recherches, actualités, etc. de l’EPFL ou essayez les exemples de questions ci-dessous.
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Explore la simulation de pannes dans les tests VLSI, couvrant la couverture des pannes, les modèles de pannes, les algorithmes, les types de simulateurs, la simulation déductive et les règles de propagation des pannes.
Couvre les défauts liés et non liés dans les systèmes VLSI, les algorithmes de test de mars, les chemins critiques et les tests de défaut de retard de chemin.
Explore la stabilité transitoire dans les systèmes d'alimentation, en mettant l'accent sur les paramètres et les méthodes critiques pour améliorer la stabilité du système.
