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Couvre la microanalyse de rayons X à dispersion d'énergie, explorant la génération, la détection, la quantification et les défis de rayons X dans l'analyse élémentaire précise.
Explore les méthodes d'analyse de surface à l'aide d'électrons, d'ions, d'atomes et de photons, en soulignant l'importance du ToF-SIMS pour une analyse de surface approfondie dans divers domaines.
Explore les phénomènes d'interférence optique, les principes de spectroscopie et les applications interférométriques dans le nano-positionnement et les gyroscopes.
Couvre les principes et les applications de Brillouin Light Scattering pour caractériser les matériaux magnétiques, y compris les ondes de spin et la structure de bande de magnon.
Couvre les principes fondamentaux et les applications de la microanalyse par rayons X à dispersion d'énergie, en expliquant son fonctionnement et ses défis.
