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Explore les techniques de caractérisation standard, en se concentrant sur la diffraction des rayons X et son importance dans la détermination des structures cristallines.
Explore la diffraction des électrons du faisceau convergent, les principes de couverture, l'alignement des échantillons, les effets d'épaisseur et les ressources pour une étude plus approfondie.
Couvre les bases du traitement d'image, la transformation de Fourier, la convolution, la corrélation croisée et la reconstruction 3D à l'aide du théorème de projection Radon.
Couvre la détermination et l'analyse des structures cristallines à l'aide de techniques telles que la diffraction des rayons X et la microscopie électronique.
Couvre les principes fondamentaux de la diffraction électronique et ses applications dans la compréhension des structures cristallines et de la symétrie, y compris les vecteurs de réseau, les plans de réseau et les techniques d'imagerie en champ sombre.
Couvre les bases de la diffraction électronique, de la théorie de la diffraction, de la formation d'images et des techniques de diffraction des rayons X.
Explore les modèles de déformation plastique dans les polymères verreux et semi-cristallins, y compris le modèle Eyring et l'influence des transitions secondaires.
Explore la diffusion de faisceaux multiples dans la diffraction des électrons, en se concentrant sur les modèles de diffraction de l'axe de zone et les approches théoriques.
