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Explore les propriétés électriques et magnétiques des matériaux, y compris les semi-conducteurs, le comportement diélectrique et les phénomènes optiques.
Explore les concepts avancés dans les accélérateurs de particules, y compris les aimants, les nouvelles techniques, l'instrumentation, l'optimisation, le diagnostic, les mesures de sécurité, les anneaux de stockage et les moniteurs de lumière synchrotron.
Explore le contraste de phase en microscopie électronique à transmission, en se concentrant sur les complexités des interactions des ondes électroniques.
Explore les principes et les applications de la technologie Focused Ion Beam, couvrant l'imagerie, le fraisage, la préparation d'échantillons TEM, les structures nanofabriquées et la microscopie 3D.
Explore les bases et les applications de la diffraction de rétrodiffusion électronique (EBSD) dans le SEM, en couvrant des techniques telles que l'acquisition et l'analyse de motifs.
Explore les principes de la microscopie électronique à transmission (TEM), les mécanismes de contraste, l'identification des dislocations et les méthodes de nettoyage des échantillons pour une imagerie précise.
