Cours

MSE-628: CCMX Advanced Course - Advanced X-ray Diffraction Methods for Coatings: strain, defects and deformation analysis of thin films

Résumé

After introducing thin film and HR-XRD characterisation methods, theory and limitations are discussed, including examples and how the film structure influences its characteristics. Protocols are presented for establishing reproducible and reliable measurements, and for interpreting their results.

Séances de cours

Source officielle

https://edu.epfl.ch/coursebook/fr/ccmx-advanced-course-advanced-x-ray-diffraction-methods-for-coatings-strain-defects-and-deformation-analysis-of-thin-films-MSE-628

Page Moodle

http://go.epfl.ch/MSE-628

À propos de ce résultat

Cette page est générée automatiquement et peut contenir des informations qui ne sont pas correctes, complètes, à jour ou pertinentes par rapport à votre recherche. Il en va de même pour toutes les autres pages de ce site. Veillez à vérifier les informations auprès des sources officielles de l'EPFL.