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Explore les techniques de caractérisation standard, en se concentrant sur la diffraction des rayons X et son importance dans la détermination des structures cristallines.
Explore la symétrie dans la science des matériaux, couvrant les éléments cristallins, les groupes de symétrie, les classes cristallines et le système de treillis Bravais.
Explore les principes de diffraction de Laue, les applications et les techniques modernes dans la science des matériaux et les expériences résolues dans le temps.
Explore le binning aléatoire dans la théorie de l'information avancée, en se concentrant sur l'attribution d'étiquettes basées sur la typicité et en atteignant des taux d'erreur négligeables dans le codage source.
Couvre la détermination et l'analyse des structures cristallines à l'aide de techniques telles que la diffraction des rayons X et la microscopie électronique.
Compare les neutrons et les rayons X dans l'analyse de diffraction, en se concentrant sur leurs niveaux d'énergie, leurs mécanismes d'interaction et leurs capacités de pénétration.