Introduction à la microscopie électronique de transmission: histoire et principes

Cette séance de cours fournit une introduction à la microscopie électronique à transmission (TEM), couvrant son développement historique et ses principes fondamentaux. L'instructeur commence par décrire la structure et les objectifs du cours, en soulignant l'importance de comprendre les contrastes physiques pertinents à la séance de cours. Un bref historique de la TEM est présenté, soulignant les étapes clés telles que l'invention du premier prototype en 1931 et les progrès ultérieurs menant à des instruments commerciaux. La discussion porte sur l'évolution de l'optique électronique, l'importance de la correction des aberrations et l'impact des améliorations technologiques sur la résolution. L'instructeur explique les composants de base d'un TEM, y compris la source d'électrons, les lentilles et l'interaction des électrons avec l'échantillon. Différents types de mécanismes de contraste, tels que le contraste d'épaisseur de masse et le contraste de diffraction, sont introduits, ainsi que leurs applications dans l'imagerie d'échantillons cristallins. La séance de cours se termine par un aperçu de la spectroscopie de perte d'énergie électronique, détaillant comment elle fournit un aperçu de la structure électronique des matériaux. Dans l'ensemble, cette séance de cours jette les bases pour comprendre les principes et les applications de la TEM en science des matériaux.