Posez n’importe quelle question sur les cours, conférences, exercices, recherches, actualités, etc. de l’EPFL ou essayez les exemples de questions ci-dessous.
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Couvre la détermination et l'analyse des structures cristallines à l'aide de techniques telles que la diffraction des rayons X et la microscopie électronique.
Explore les principes de la microscopie électronique à transmission (TEM), les mécanismes de contraste, l'identification des dislocations et les méthodes de nettoyage des échantillons pour une imagerie précise.
Compare les neutrons et les rayons X dans l'analyse de diffraction, en se concentrant sur leurs niveaux d'énergie, leurs mécanismes d'interaction et leurs capacités de pénétration.
Explore Convergent Beam Electron Diffraction (CBED) pour des informations détaillées sur la structure cristalline et la mesure de l'épaisseur de l'échantillon.
Explore les phénomènes de diffusion de surface, la longueur d'onde électronique, les interférences constructives, les particules organo-métalliques et le rayonnement synchrotron dans les nanosciences.
Explore la diffraction des électrons du faisceau convergent, les principes de couverture, l'alignement des échantillons, les effets d'épaisseur et les ressources pour une étude plus approfondie.
Explore les techniques d'imagerie sans lentille, l'imagerie diffuse par rayons X cohérente, l'extraction de phase et les applications dans la diffusion des rayons X en petit angle.
