EBSD Basics: Applications et analyse de données

Cette séance de cours couvre les bases de la diffraction de rétrodiffusion électronique (EBSD), y compris la préparation d'échantillons, l'acquisition de modèles EBSD, la transformée de Hough et les techniques d'analyse de données. Il explore les utilisations de l'EBSD pour les mesures d'orientation, l'identification de phase et les données microstructurales quantitatives dans divers matériaux. La séance de cours explore également l'influence de l'accélération de la tension, de la précision spatiale et angulaire et des applications de l'EBSD en cristallographie. Les aspects pratiques tels que l'indexation des PEMS, l'identification des phases et l'analyse des données avec des représentations d'orientation sont discutés en détail.

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Diffraction d'électrons rétrodiffusés

thumb|Cliché de diffraction obtenu par EBSD thumb|Cliché EBSD du silicium monocristallin, obtenu à 20 kV avec un canon à émission de champ right|thumb|Principe de l’EBSD La diffraction d'électrons rétrodiffusés (en anglais electron backscatter diffraction ou EBSD, ou encore backscatter Kikuchi diffraction ou BKD) est une technique cristallographique microstructurale permettant de mesurer l'orientation cristallographique de nombreux matériaux, qui peut être utilisée pour déterminer la texture ou l'orientation

Cristallographie

La cristallographie est la science qui se consacre à l'étude des cristaux à l'échelle atomique. Les propriétés physico-chimiques d'un cristal sont étroitement liées à l'arrangement spatial des atomes dans la matière. L'état cristallin est défini par un caractère périodique et ordonné à l'échelle atomique ou moléculaire. Le cristal est obtenu par translation dans toutes les directions d'une unité de base appelée maille élémentaire.

Diffraction des électrons

La diffraction des électrons est une technique utilisée pour l'étude de la matière qui consiste à bombarder d'électrons un échantillon et à observer la figure de diffraction résultante. Ce phénomène se produit en raison de la dualité onde-particule, qui fait qu'une particule matérielle (dans le cas de l'électron incident) peut être décrite comme une onde. Ainsi, un électron peut être considéré comme une onde, comme pour le son ou les vagues à la surface de l'eau. Cette technique est similaire à la diffraction X et à la diffraction de neutrons.

Cristallographie aux rayons X

La cristallographie aux rayons X, radiocristallographie ou diffractométrie de rayons X (DRX, on utilise aussi souvent l'abréviation anglaise XRD pour X-ray diffraction) est une technique d'analyse fondée sur la diffraction des rayons X par la matière, particulièrement quand celle-ci est cristalline. La diffraction des rayons X est une diffusion élastique, c'est-à-dire sans perte d'énergie des photons (longueurs d'onde inchangées), qui donne lieu à des interférences d'autant plus marquées que la matière est ordonnée.

Microscopie électronique à balayage

thumb|right|Premier microscope électronique à balayage par M von Ardenne thumb|right|Microscope électronique à balayage JEOL JSM-6340F thumb|upright=1.5|Principe de fonctionnement du Microscope Électronique à Balayage La microscopie électronique à balayage (MEB) ou scanning electron microscope (SEM) en anglais est une technique de microscopie électronique capable de produire des images en haute résolution de la surface d’un échantillon en utilisant le principe des interactions électrons-matière.

Diffraction des électrons : bases et applications MSE-352: Introduction to microscopy + Laboratory work

Explore les bases de la diffraction électronique, y compris la loi de Bragg, le réseau réciproque et des applications telles que la discrimination en phase cristalline.

Déviation de la dispersion de Bragg

Couvre la théorie de la diffraction des électrons, la loi de Bragg, le réseau réciproque, la sphère d'Ewald et l'imagerie en champ sombre à faisceau faible.