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Explore les méthodes d'analyse de surface à l'aide d'électrons, d'ions, d'atomes et de photons, en soulignant l'importance du ToF-SIMS pour une analyse de surface approfondie dans divers domaines.
Explore les techniques avancées de microscopie électronique pour les matériaux 2D, couvrant l'imagerie à haute résolution, réduisant les dommages, la diffraction et la ptychographie.
Explore les techniques de microscopie électronique pour la caractérisation morphologique des polymères, couvrant les sources de contraste, les dommages causés par le faisceau et les stratégies pour éviter les dommages.
Couvre les principes fondamentaux et les applications de la microanalyse par rayons X à dispersion d'énergie, en expliquant son fonctionnement et ses défis.
Explore le processus de conception Playcentric, en soulignant l'importance de définir des objectifs d'expérience de joueur et la nature itérative de Playtesting.
