Lasers d'électrons libres à rayons X : Microbunching et Spectra
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Explore les lasers à électrons libres, couvrant les sources de lumière, la brillance, les sources de rayons X, les modes FEL et les exigences de faisceau d'électrons.
Explore les synchrotrons, les techniques de rayons X, XPS, XPD, les configurations expérimentales, les déplacements chimiques et les méthodes complémentaires.
Explore les synchrotrons, les lasers à électrons libres, l'accélération électronique, la production de rayonnement et la dynamique d'aimantation ultrarapide.
Explore les interactions faisceau-matière, les effets thermiques, les effets chimiques, les déplacements atomiques et les mécanismes d'émission de matière en microscopie électronique.
Explore les synchrotrons, les techniques de rayons X, les équations de Fresnel, la rugosité et les multicouches pour la surveillance de la croissance du film.
Couvre la spectrométrie de photoélectrons à rayons X (XPS), une technique d'analyse de surface développée par Kai Siegbahn, expliquant ses composants, son mécanisme et ses méthodes d'analyse.
Explore les sources de rayonnement, y compris les sources d'électrons rapides, les sources de particules lourdes chargées et les sources de neutrons, couvrant des processus comme la désintégration bêta, la conversion interne et les électrons Auger.
