Explore les principes de la microscopie électronique à transmission par balayage (STEM) pour la microscopie analytique, couvrant la diffraction TEM, les détecteurs et l'analyse EDS.
Couvre les composants et les technologies utilisés en microscopie électronique, y compris les détecteurs, les lentilles, les aberrations et les porte-échantillons.
Introduit la diffraction de rétrodiffusion électronique (EBSD) dans le SEM pour l'analyse microstructurale de divers matériaux, en mettant l'accent sur la préparation des échantillons et l'indexation des motifs.
