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Explore les applications de la focalisation micron et submicron, de la cristallographie et des reconstructions tomographiques dans les lignes de faisceaux, ainsi que la nécessité d'optique secondaire et de différents types de lentilles.
Explore les techniques de tomographie par rayons X, qui couvrent les sources, l'optique, les détecteurs et les considérations relatives aux échantillons.
Explore le réglage de fréquence basé sur le stress dans les dispositifs micro/nanomécaniques, couvrant le rayonnement noir du corps, la non-linéarité optique, NETD, et la gamme dynamique.
Explore la ptychographie, une technique d'imagerie puissante utilisée dans les synchrotrons et les lasers d'électrons libres à rayons X, couvrant ses principes, applications et considérations expérimentales.
