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Couvre les bases de la diffraction électronique, de la théorie de la diffraction, de la formation d'images et des techniques de diffraction des rayons X.
Explore les techniques de caractérisation standard, en se concentrant sur la diffraction des rayons X et son importance dans la détermination des structures cristallines.
Explore la modélisation à l'échelle atomique au moyen d'exercices interactifs et d'affectations notées, couvrant la cristallographie, la diffraction, les défauts et les modèles de régression.
Explore les interactions faisceau-matière, les effets thermiques, les effets chimiques, les déplacements atomiques et les mécanismes d'émission de matière en microscopie électronique.
Explore la diffusion dynamique dans la diffraction électronique, en discutant des défis dans l'interprétation des modèles de diffraction et des applications dans l'imagerie des défauts cristallins et la discrimination de phase.
Couvre les bases des pinces optiques et leurs applications en microscopie, manipulation et spectroscopie, ainsi que l'alignement des molécules à l'aide d'impulsions laser.
