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Couvre la microanalyse de rayons X à dispersion d'énergie, explorant la génération, la détection, la quantification et les défis de rayons X dans l'analyse élémentaire précise.
Explore les interactions faisceau-matière, en se concentrant sur les phénomènes d'émission de l'ionisation électronique du noyau par les rayons X et les électrons, et la concurrence entre Auger et les émissions de rayons X.
Explore le développement historique et les applications industrielles de la radiographie et de la tomographie informatisée avec rayons X, gamma et neutrons.
Explore les rayonnements synchrotrons, les sources de rayons X, les réalisations scientifiques et les faits saillants récents de la science des synchrotrons.
Couvre la méthode Rietveld pour l'analyse de phase et le raffinement de la structure, y compris des critères pour un bon ajustement et des exemples d'ajustement simples.