Cette séance de cours présente la méthode Rietveld, une technique pour l'analyse des motifs de diffraction et le raffinement de la structure. Il couvre l'identification des phases, la détermination de la structure cristalline, l'analyse quantitative des phases et les analyses microstructurales. La méthode implique une minimisation itérative des moindres carrés entre les profils de diffraction observés et calculés, s'étendant aux profils XRD. La séance de cours explique comment déterminer les structures cristallines, les concentrations de phase et d'autres caractéristiques de l'échantillon à l'aide de la méthode Rietveld. Il examine également les critères d'un bon ajustement, y compris l'inspection visuelle, les facteurs numériques et la surveillance des paramètres chimiques. Des exemples de scénarios simples d'ajustement avec des mélanges de rutile et d'alite sont présentés, démontrant le raffinement des paramètres du réseau et des facteurs de déplacement atomique.