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Explore les modes d'imagerie en TEM, couvrant les interactions électron-matière, les modèles de diffraction, la formation d'images, les principes de contraste et les configurations de détecteurs.
Couvre les fondamentaux de la microscopie, y compris le fonctionnement de l'objectif, la création d'images et les techniques avancées comme la fluorescence et la super résolution.
Couvre les propriétés du rayonnement synchrotron, y compris son émission par des particules relativistes et son effet sur le faisceau par amortissement du rayonnement.
Introduit les bases de la microscopie électronique, couvrant les composants, les interactions, les modes d'imagerie et les techniques de nanofabrication.
Couvre les bases de la microscopie électronique à balayage, y compris la configuration, les signaux et les défis tels que les dommages causés par le faisceau et la charge.
Explore les principes EDS et ESEM, la détection des rayons X, l'efficacité de l'ionisation, la loi de Moseley et les environnements d'échantillons ESEM.
Explore la ptychographie, une technique d'imagerie puissante utilisée dans les synchrotrons et les lasers d'électrons libres à rayons X, couvrant ses principes, applications et considérations expérimentales.
Explore les domaines magnétiques et les murs dans les matériaux ferromagnétiques, en discutant de leur formation, des considérations énergétiques, et des configurations de domaine.
