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Couvre les bases de la microscopie électronique à balayage, y compris les interactions électron-échantillon, les détecteurs, la préparation des échantillons, la formation d'images, la résolution et les contrastes dans les images SEM.
Couvre le développement historique et les composantes clés de la microscopie électronique de transmission, y compris le pistolet à électrons, les lentilles, les ouvertures et les porte-échantillons.
Explore les principes de la microscopie électronique à transmission par balayage (STEM) pour la microscopie analytique, couvrant la diffraction TEM, les détecteurs et l'analyse EDS.
Explore les techniques de préparation d'échantillons pour la TEM, telles que la méthode du coin clivé et l'ultramicrotomie, en soulignant leur importance dans l'obtention d'échantillons de haute qualité.
Explore l'interférence électronique, la dualité onde-particule, l'effet Compton, l'hypothèse de Broglie et l'aspect philosophique des théories scientifiques.
Couvre les approches fondamentales de caractérisation des matériaux solides, en se concentrant sur l'analyse élémentaire, l'analyse thermique, la microscopie et les spectroscopies à base de neutrons.
Couvre les principes et les applications de la Tomographie de Cohérence Optique dans divers domaines, y compris le diagnostic médical et la science des matériaux.
Déplacez-vous dans l'effet de diffusion dynamique des franges d'épaisseur dans les images TEM, couvrant les équations, les diagrammes d'intensité et l'imagerie par faisceau faible.
