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Explore les modes d'imagerie en TEM, couvrant les interactions électroniques, la diffraction, la formation de contraste et la correction de l'astigmatisme.
Explore la liaison chimique dans les solides, la structure de la bande et les techniques de diffusion de surface pour les mesures des paramètres du réseau et l'analyse de l'orientation des cristaux.
Explore la diffusion dynamique dans la diffraction électronique, discutant de la diffusion interdépendante et de l'interprétation difficile des faisceaux diffractés.
Couvre les structures algébriques, la cristallographie, les structures cristallines et la géométrie euclidienne avec un accent sur les vecteurs et les plans cristallins.
Introduit la diffusion dynamique dans TEM, couvrant la diffusion élastique unique et multiple, la diffraction à 2 faisceaux, la théorie des ondes Bloch et l'intensité de diffusion.
Couvre la détermination et l'analyse des structures cristallines à l'aide de techniques telles que la diffraction des rayons X et la microscopie électronique.
Explore les techniques de caractérisation standard, en se concentrant sur la diffraction des rayons X et son importance dans la détermination des structures cristallines.
