Structures cristallographiques : symétrie et diffraction

Cette séance de cours couvre les principes de la cristallographie, en se concentrant sur les systèmes cubiques et la détermination des structures cristallines par diffraction des rayons X. Il explique comment indexer les plans et les directions cristallographiques, le concept d'empilement compact et l'utilisation des indices de Miller. La séance de cours explore également l'interaction des rayons X avec la matière, les modèles de diffraction produits et l'interprétation des modèles de DRX. En outre, il explore la disposition des atomes dans les structures cristallines, le concept de densité et la détermination de la symétrie cristalline. Des exercices pratiques et des démonstrations sont utilisés pour illustrer ces concepts.