Couvre les techniques d'imagerie magnétique par rayons X, y compris les techniques XMCD, XRMS et l'optique par rayons X, pour l'étude des matériaux et domaines magnétiques.
Explique la détermination de l'épaisseur du film à l'aide de techniques XPS et AES, couvrant les principes, l'instrumentation et les comparaisons analytiques.
Explore les synchrotrons, les lasers à rayons X, les relaxations, les reconstructions et les barres de superstructure dans les techniques de diffraction des rayons X de surface.
Explore les synchrotrons, les lasers à rayons X, les détecteurs, la résolution de structure, le basculement de charge, les tests de radiation, la diffraction ultrarapide et les techniques de diffusion totale.
Couvre la spectrométrie de photoélectrons à rayons X (XPS), une technique d'analyse de surface développée par Kai Siegbahn, expliquant ses composants, son mécanisme et ses méthodes d'analyse.
Explore les principes de la spectroscopie à rayons X et à photoélectrons ultraviolets, les applications et les études de cas sur les revêtements de TiO2 et les films dopés.
Couvre les propriétés du rayonnement synchrotron, y compris son émission par des particules relativistes et son effet sur le faisceau par amortissement du rayonnement.
