Explore le réseau réciproque dans les systèmes 2D, la diffraction du réseau et des structures atomiques, mettant l'accent sur la dispersion et l'interférence constructive.
Explore les bases de la diffraction électronique, y compris la loi de Bragg, le réseau réciproque et des applications telles que la discrimination en phase cristalline.
Couvre l'analyse des composantes principales pour la réduction de dimensionnalité, en explorant ses applications, ses limites et l'importance de choisir les composantes appropriées.
Explore la perspective historique, les propriétés et les applications des rayons X, y compris la diffraction, la résolution atomique et les couleurs spectrales des éléments.
Introduit la modélisation fondée sur les données en mettant l'accent sur la régression, couvrant la régression linéaire, les risques de raisonnement inductif, l'APC et la régression des crêtes.
Explore la classification des données textuelles, en se concentrant sur des méthodes telles que les bayes naïques et les techniques de réduction de la dimensionnalité telles que l'analyse des composantes principales.
