Couvre la métrologie à l'échelle nanométrique, la microscopie optique, la microscopie à force atomique, la microscopie électronique et la redéfinition des unités.
Explique la conversion entre les unités SI et cgs pour les champs magnétiques et l'aimantation, soulignant l'importance de conversions d'unités précises dans les calculs scientifiques.
