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Cette séance de cours porte sur les principes et les technologies qui sous-tendent les capteurs à grande surface pour la détection des rayons X, y compris les méthodes de détection directe et indirecte utilisant des diodes semi-conducteurs et des scintillateurs. Il traite des paramètres de performance de divers détecteurs de rayons X, tels que l'efficacité de conversion et l'indice de réfraction. La séance de cours explore également l'utilisation d'a-Se et de CdTe comme matériaux de conversion directe, ainsi que l'application de perovskites pour améliorer la sensibilité aux rayons X. En outre, il se penche sur la conception et l'intégration d'images de panneaux plats à matrice active pour la radiographie, soulignant les avantages des détecteurs a-Si:H et a-Se pour différentes modalités d'imagerie.