Couvre les principes fondamentaux de la diffraction électronique et ses applications dans la compréhension des structures cristallines et de la symétrie, y compris les vecteurs de réseau, les plans de réseau et les techniques d'imagerie en champ sombre.
Couvre l'analyse de modèles de diffraction de surface sélectionnés pour identifier les structures cristallines et calculer les paramètres de la cellule unitaire.
Couvre la détermination et l'analyse des structures cristallines à l'aide de techniques telles que la diffraction des rayons X et la microscopie électronique.
Explore la symétrie et les conditions aux limites dans les modèles par éléments finis, en soulignant l'importance de maintenir la symétrie pour une modélisation précise.
