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Cette séance de cours porte sur le concept de mobilité dérivante dans les matériaux électroniques, en mettant l'accent sur l'activation thermique des porteurs, la conduction multiple du piégeage et l'évolution temporelle des statistiques du piégeage. Il traite également de l'influence des queues de bande sur la mobilité dérivante, ainsi que de la mesure et de l'analyse des queues de bande à l'aide de techniques comme XPS. La séance de cours se termine par un examen des processus d'absorption de la queue de la bande et de l'image émergente des structures de la bande dans des matériaux comme a-Si:H et IGZO.