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Présente des expériences de métrologie pratiques, couvrant des sujets tels que la métrologie quantique, les expériences à photons uniques et l'AFM pour les mesures nanométriques.
Explore les techniques de microscopie optique, les mesures de dimension, le profilage de surface, la caractérisation électrique du MEMS et les techniques de microscopie avancées.
Explore l'impression 3D d'éléments optiques de forme libre à l'aide de la lithographie laser plongeante, en présentant ses avantages et ses diverses applications.
Explore la microscopie électronique à balayage environnemental (ESEM) pour l'imagerie de divers échantillons sans préparation, couvrant le balayage de faisceau d'électrons, la manipulation de pression, la diffusion d'électrons, l'analyse de rayons X et les transitions de phase.
Couvre les techniques d'imagerie par microscopie électronique en transmission à haute résolution, en se concentrant sur le contraste de phase, les simulations et l'impact des aberrations sur l'interprétation des images.
Explore la lithographie par faisceau d'électrons (EBL), son aperçu des outils, les niveaux de vide, les sources d'électrons et les canons pour la fabrication de dispositifs de moins de 20 nm.
Explore les aberrations optiques, l'alignement, la mise au point, les mesures, l'analyse d'images et la correction d'erreurs dans les évaluations optiques.
