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Cette séance de cours couvre les applications de la focalisation micron et submicron, la cristallographie en série, la XRD haute pression, les spectroscopies d'électrons opérandes et les reconstructions tomographiques dans les lignes de faisceaux. Il traite également de la nécessité de l'optique secondaire, des configurations génériques, des lentilles réfractaires composées, des lentilles réfractaires composées paraboliques et des LCR paraboliques kinoforme.