XRR et SAXS : Caractérisation avancée

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Description

Cette séance de cours couvre la réflectivité des rayons X (XRR) et les techniques de diffusion des rayons X à petit angle (SAXS) pour analyser les films cristallins et amorphes. XRR mesure l'interférence des ondes réfléchies pour déterminer l'épaisseur de la couche, la densité du matériau et la rugosité de la surface. SAXS sonde la taille, la forme et les nanostructures des particules. L'instructeur explique les principes, les configurations de mesure, et les applications de XRR et de SAXS en caractérisant des matériaux à l'échelle nanométrique.

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Enseignants (3)

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Source officielle

https://mediaspace.epfl.ch/media/0_rnh8ojd0

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Proximité ontologique

Statistique

Inférence statistique: Statistique mathématique

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