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Couvre les principes et les applications de la microscopie de la force atomique (AFM) pour la métrologie à l'échelle nanométrique, y compris les modes d'imagerie, les interactions tip-sample et le traitement de l'image.
Explore l'amplification des impulsions chirpées pour les impulsions laser ultracourtes et l'importance de la stabilisation de la phase Carrier-Envelope.
Déplacez-vous dans des propriétés nanométriques, mettant l'accent sur les effets de surface et les phénomènes quantiques, explorant des propriétés électroniques, mécaniques, magnétiques, photoniques et chimiques uniques à l'échelle nanométrique.
Explore les techniques de spectroscopie d'énergie comme XPS et UPS, la spectroscopie Auger, la sensibilité de surface et la structure de bande de graphène.
Explore les réseaux de diffraction, en comparant les réseaux de transmission et de réflexion, l'efficacité, l'optimisation, la dispersion, la résolution et les applications pratiques en spectroscopie.
