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Explore la conception et le fonctionnement des plaques de zone Fresnel pour focaliser les rayons X dans les synchrotrons et les lasers d'électrons libres de rayons X.
Couvre la méthode Rietveld pour l'analyse de phase et le raffinement de la structure, y compris des critères pour un bon ajustement et des exemples d'ajustement simples.
Explore les bases de la diffraction électronique, y compris la loi de Bragg, le réseau réciproque et des applications telles que la discrimination en phase cristalline.
Analyse les modèles d'interférence à partir d'un appareil à six fentes pour déterminer la relation entre la largeur et la distance des fentes, en présentant des expressions mathématiques et des représentations graphiques.
Explore la diffusion dynamique dans la diffraction électronique, en discutant des défis dans l'interprétation des modèles de diffraction et des applications dans l'imagerie des défauts cristallins et la discrimination de phase.
