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Couvre les principes et les applications de la microscopie de la force atomique (AFM) pour la métrologie à l'échelle nanométrique, y compris les modes d'imagerie, les interactions tip-sample et le traitement de l'image.
Explore les techniques de microscopie 3D et de tomographie, y compris la tomographie par sonde atomique et la microscopie par émission sur le terrain, en mettant l'accent sur les principes et les applications de la tomographie électronique.
Explore les principes et les applications de la microscopie confocale, en mettant l'accent sur les avantages des techniques d'imagerie et des facteurs de qualité.
Explore les techniques de microscopie optique, les mesures de dimension, le profilage de surface, la caractérisation électrique du MEMS et les techniques de microscopie avancées.
Introduit des techniques de caractérisation morphologique des polymères, en mettant l'accent sur le chevauchement entre la science des matériaux organiques et les biosciences.
