Vineet Abhishek

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Publications associées (1)

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A Methodology for Reliability Enhancement of Nanometer-Scale Digital Systems Based on A-Priori Functional Fault-Tolerance Analysis

Alexandre Schmid, Yusuf Leblebici, Milos Stanisavljevic, Vineet Abhishek

This paper presents a new approach for monitoring and estimating device reliability of nanometer-scale devices prior to fabrication. A four-layer architecture exhibiting a large immunity to permanent as well as random failures is used. A complete tool for ...

IFIP2005

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