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Publications associées (18)

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Evaluation of secondary electron intensities for dopant profiling in ion implanted semiconductors: a correlative study combining SE, SIMS and ECV methods

Franz-Josef Haug, Aïcha Hessler-Wyser, Quentin Thomas Jeangros, Audrey Marie Isabelle Morisset, Philippe Wyss, Mario Joe Lehmann

This study evaluates the secondary electron (SE) dopant contrast in scanning electron microscopy (SEM) and helium ion microscopy (HIM) on boron implanted silicon sample. Complementary techniques like secondary ion mass spectrometry and electrochemical capa ...

IOP PUBLISHING LTD2021

Bulk Defects and Hydrogenation Kinetics in Crystalline Silicon Solar Cells With Fired Passivating Contacts

Christophe Ballif, Franz-Josef Haug, Andrea Ingenito, Audrey Marie Isabelle Morisset, Philippe Wyss, Mario Joe Lehmann, Père Roca i Cabarrocas

In this article, the effect of the various processing steps during the fabrication of c-Si/SiOx/SiCx fired passivating contacts on the silicon bulk lifetime is studied, and the kinetics of defect deactivation by hydrogenation is investigated. It is found t ...

2022

Rear textured p-type high temperature passivating contacts and their implementation in perovskite/silicon tandem cells

Christophe Ballif, Quentin Thomas Jeangros, Antoine Descoeudres, Andrea Ingenito, Arnaud Walter, Sylvain Nicolay, Soo-Jin Moon, Philippe Wyss

Silicon solar cells based on high temperature passivating contacts are becoming mainstream in the photovoltaic industry. Here, we developed a high-quality boron-doped poly-silicon hole contact. When combined with a co-processed phosphorus-doped poly-silico ...

Royal Soc Chemistry2023