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Dongfeng Zhang

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Publications associées (5)

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Electron Microscopy Mechanical Testing of Silicon Nanowires Using Electrostatically Actuated Tensile Stages

Reymond Clavel, Jean-Marc Breguet, Johann Michler, Dongfeng Zhang

Two types of electrostatically actuated tensile stages for in situ electron microscopy mechanical testing of 1-D nanostructures were designed, microfabricated, and tested. Testing was carried out for mechanical characterization of silicon nanowires (SiNWs) ...

Institute of Electrical and Electronics Engineers2010

A high-sensitivity and quasi-linear capacitive sensor for nanomechanical testing applications

Reymond Clavel, Johann Michler, Jean-Marc Breguet, Dongfeng Zhang

The design, modeling, fabrication and characterization of triplate differential capacitive sensors employed in novel on-chip tensile and compression material testing systems are reported, where the capacitive sensors are integrated to measure the load on t ...

2009

A nano-tensile testing system for studying nanostructures inside an electron microscope : design, characterization and application

Mechanical properties of nanostructures could be remarkably different from their bulk counterparts owing to scale effects, which have attracted considerable research interest in recent years. However, nanomechanics studies are hindered by the difficulties ...

EPFL2010