Publication

Cell refractive index tomography by digital holographic microscopy

Résumé

For what we believe to be the first time, digital holographic microscopy is applied to perform optical diffraction tomography of a pollen grain. Transmission phase images with nanometric axial accuracy are numerically reconstructed from holograms acquired for different orientations of the rotating sample; then the threedimensional refractive index spatial distribution is computed by inverse radon transform. A precision of 0.01 for the refractive index estimation and a spatial resolution in the micrometer range are demonstrated.

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Proximité ontologique
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Microscope optique
Le microscope optique ou microscope photonique est un instrument d'optique muni d'un objectif et d'un oculaire qui permet de grossir l'image d'un objet de petites dimensions (ce qui caractérise sa puissance optique) et de séparer les détails de cette image (et son pouvoir de résolution) afin qu'il soit observable par l'œil humain. Il est utilisé en biologie, pour observer les cellules, les tissus, en pétrographie pour reconnaître les roches, en métallurgie et en métallographie pour examiner la structure d'un métal ou d'un alliage.
Pollen
Le pollen (du grec , « farine, poussière ») constitue, chez les plantes à graines, l'élément mobile mâle produit par la fleur : ce sont des grains minuscules ( de diamètre en général), de forme plus ou moins ovoïde, initialement contenus dans l'anthère à l'extrémité des étamines. Le grain de pollen est le gamétophyte mâle, il produit et contient les gamètes mâles haploïdes (n), et permet leur déplacement. On le considère parfois à tort comme un gamète.
Phase-contrast X-ray imaging
Phase-contrast X-ray imaging or phase-sensitive X-ray imaging is a general term for different technical methods that use information concerning changes in the phase of an X-ray beam that passes through an object in order to create its images. Standard X-ray imaging techniques like radiography or computed tomography (CT) rely on a decrease of the X-ray beam's intensity (attenuation) when traversing the sample, which can be measured directly with the assistance of an X-ray detector.
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