Spectroscopie des rayons XLa spectroscopie des rayons X rassemble plusieurs techniques de caractérisation spectroscopique de matériaux par excitation par rayons X. Trois familles de techniques sont le plus souvent utilisées. Selon les phénomènes mis en jeu, on distingue trois classes : L'analyse se fait par l'une des deux méthodes suivantes : analyse dispersive en énergie (Energy-dispersive x-ray analysis (EDXA) en anglais) ; analyse dispersive en longueur d'onde (Wavelength dispersive x-ray analysis (WDXA) en anglais).
Thin-film opticsThin-film optics is the branch of optics that deals with very thin structured layers of different materials. In order to exhibit thin-film optics, the thickness of the layers of material must be similar to the coherence length; for visible light it is most often observed between 200 and 1000 nm of thickness. Layers at this scale can have remarkable reflective properties due to light wave interference and the difference in refractive index between the layers, the air, and the substrate.
Organogermanium chemistryOrganogermanium chemistry is the science of chemical species containing one or more C–Ge bonds. Germanium shares group 14 in the periodic table with carbon, silicon, tin and lead. Historically, organogermanes are considered as nucleophiles and the reactivity of them is between that of organosilicon and organotin compounds. Some organogermanes have enhanced reactivity compared with their organosilicon and organoboron analogues in some cross-coupling reactions.
SilylationLa silylation est l'introduction d'un groupe silyle, généralement substitué (R3Si–), dans une molécule. Cette réaction implique le remplacement d'un hydrogène acide sur le composé initial par un groupe alkylsilyle, par exemple le groupe triméthylsilyle (-SiMe3). Le dérivé ainsi formé est généralement moins polaire, plus volatil et plus stable thermiquement.
