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Explore les structures de bandes dans les semi-conducteurs, en discutant de la sélection des vecteurs d'ondes réciproques et du couplage des vibrations des électrons et des phonons.
Explore la résistance au contact dans les dispositifs semi-conducteurs, y compris la loi de Moore, les caractéristiques FET, les limites quantiques et les techniques de mesure.
Explore les aberrations optiques en microscopie, y compris sphérique, chromatique, le coma, l'astigmatisme, et plus encore, impactant la qualité d'image et les méthodes de correction.
Introduit les bases de la microscopie électronique à transmission, couvrant la diffraction électronique, les modes d'imagerie, la préparation des échantillons, les propriétés électroniques et l'imagerie à haute résolution.
