Microscopie à force atomique : Interactions bout-échantillon

Cette séance de cours couvre l'interaction entre la pointe et l'échantillon dans la microscopie à force atomique (AFM), en se concentrant sur la force de Van-der-Waals, l'hystérésis, l'AFM de contact, l'AFM sans contact et les mécanismes de rétroaction. Il traite également du fonctionnement de l'AFM de contact, de la détection du mouvement du faisceau laser, de la rétroaction de l'AFM et de l'impact de la taille de la pointe sur la résolution de l'image. En outre, il explore les régimes de force dans l'AFM sans contact, les résonances du porte-à-faux et l'importance des corrections d'ajustement plan dans le traitement de l'image.