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Explore les techniques de test pour les systèmes VLSI numériques, couvrant la modélisation des défauts, la génération de modèles de test et la conception pour la testabilité.
Couvre la dissipation d'énergie dans les puces VLSI, en se concentrant sur le courant sous-seuil dans les transistors NMOS et les effets de la tension de seuil sur la consommation d'énergie.
Explore les FPGA comme des accélérateurs matériels pour l'IoT, y compris leur flexibilité et leur impact sur l'accélération de l'apprentissage profond.
Couvre la récupération d'énergie, la sécurité, la conception de circuits, les soins de santé personnalisés et les technologies de communication sécurisées.
Couvre les considérations de conception pour les circuits NAND tridimensionnels, en se concentrant sur le dimensionnement des transistors et l'optimisation des performances.
